Computer-aided system for defect inspection in the PCB manufacturing process
- Mateo Sanguino, T.J.
- Smolčić-Rodríguez, M.
Konferenzberichte:
INES 2012 - IEEE 16th International Conference on Intelligent Engineering Systems, Proceedings
ISBN: 9781467326957
Datum der Publikation: 2012
Seiten: 151-156
Art: Konferenz-Beitrag