Fabric defect detection using the wavelet transform in an ARM processor

  1. Fernández, J.A.
  2. Orjuela, S.A.
  3. Álvarez, J.
  4. Philips, W.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819489470

Any de publicació: 2012

Volum: 8300

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.909432 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus