Fabric defect detection using the wavelet transform in an ARM processor

  1. Fernández, J.A.
  2. Orjuela, S.A.
  3. Álvarez, J.
  4. Philips, W.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819489470

Año de publicación: 2012

Volumen: 8300

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.909432 GOOGLE SCHOLAR
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