Test Bench for Highly Segmented GRIT Double-Sided Silicon Strip Detectors: A Detector Quality Control Protocol

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Revista:
Sensors

ISSN: 1424-8220

Año de publicación: 2023

Volumen: 23

Número: 12

Tipo: Artículo

DOI: 10.3390/S23125384 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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