Cryogenic reliability impact on analog circuits at extreme low temperatures

  1. Chen, Yuan
  2. Westergard, Lynett
  3. Billman, Curtis
  4. Leon, Rosa
  5. Vo, Tuan
  6. White, Mark
  7. Mojarradi, Mohammad
  8. Kolawa, Elizabeth
Col·lecció de llibres:
2007 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM PROCEEDINGS - 45TH ANNUAL

ISSN: 1541-7026

ISBN: 978-1-4244-0918-1

Any de publicació: 2007

Pàgines: 156-158

Congrés: 45th Annual IEEE International Reliability Physics Symposium

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS